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            高低溫試驗箱的測試流程

            來源:精秀熱工 瀏覽: 發布日期:2020-03-25
            高低溫試驗箱

            1、在樣品斷電的狀態下,先將溫度下降到-50℃,保持4個小時;請勿在樣品通電的狀態下進行低溫測試,非常重要,因為通電狀態下,芯片本身就會產生20℃以上溫度,所以,在通電狀態下,通常比較容易通過低溫測試,必須先將其“凍透”,再次通電進行測試。
             
            2、開機,對樣品進行性能測試,對比性能與常溫相比是否正常。
             
            3、進行老化測試,觀察是否有數據對比錯誤。
             
            4、升溫到 90℃,保持4個小時,與低溫測試相反,升溫過程不斷電,保持芯片內部的溫度-直處于高溫狀態,4個小時后,執行2、3、4測試步驟。
             
            5、高溫和低溫測試分別重復10次。
             
            如果測試過程出現任何一次不能正常工作的狀態,則視為測試失敗。

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